英诺达（成都）电子科技有限公司发布了自主研发的静态考证EDA用具EnAltius®昂屹® DFT Checker，该用具不错在想象的早期阶段发现与DFT关系的问题或想象劣势。

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跟着芯片界限和复杂度的进步，芯片各式逻辑和电气功能考证的条件越来越高，多种RTL编码作风、以及存在于电路想象中的结构性和功能性问题更容易成为想象上的劣势，导致想象握住修改，以致酿成流片失败的风险。此外，想象重用性和IP的高集成度对模块想象在正确性和一致性方面建议了更严格的条件，以提高IP集成的可靠性和收效劳。

上述芯片想象的挑战不错通过传统的基于仿真实动态考证用具和期间取得一定进度的处置，但是，当代的SoC想象需要雄壮的静态考证期间看成补充，以裁汰想象期间并提高初度流片的收效劳。更为贫乏的是这种期间可在想象的早期阶段发现想象劣势，从而幸免想象团队多半无效期间和元气心灵的插足。

英诺达是国内第一家专注于开辟以IC想象代码分析和划定查验为基础的静态考证用具的EDA企业，可提供全面的用于分析、查错和建筑的EDA处置有谋略，可在想象的早期阶段（RTL阶段或逻辑空洞阶段）对结构性、功能性和电气性等电路问题进行久了的分析。继EnFortius®凝锋®系列两款低功耗静态考证用具发布之后，英诺达这次发布的昂屹®DFT Checker静态查验用具，不错对RTL或网表想象进行结构性和功能性分析，在想象早期阶段提高IC想象的质料。

DFT（可测试性想象，Design-For-Test）是想象经管的重要一环，通过在想象上增多逻辑，使芯片的测试更高效和更容易，此外，还不错提高良品率、贬低资本。因此，确保芯片想象稳当DFT想象划定，提高测试散失率是悉数想象团队都要靠近和处置的问题。面前，DFT测试散失率每每条件达到99%以上，因为任何漏掉的测试向量都可能导致芯片在本色诓骗中出现故障。而在想象后期增多DFT逻辑会对性能、功耗和面积产生较大影响，会导致想象迭代以致重新想象。是以，在想象的早期阶段提高代码的质料至关迫切。

昂屹®DFT Checker基于英诺达首款EDA用具凝锋® LPC的底层架构和先进算法，该款用具可提供早期RTL可测试性分析功能，同期也复旧传统的基于网表的进程。除了对可测试性问题的早期分析除外，该用具还不错裁汰完成DFT想象的期间，并确保想象在可测试性部分达到委派圭表。

该款用具涵盖了全面的结构、功能和电路划定查验，可灵验提高测试散失率。基于先进的SoC想象划定和才气学，昂屹®DFT Checker可考证芯片在不同时势下悉数连线的正确性、竣工性和集成性。此外，为了提高想象后果，该用具提供以概念为导向的报错信息，匡助想象师快速过滤、定位和调试想象上的问题。对此，益昂半导体副总范学锋示意：“DFT想象是IC想象弗成短缺的一环，英诺达DFT Checker不错匡助想象师在想象的早期阶段发现并校正对DFT不友好的想象，使得后期的DFT空洞与终了更快速经管，从而提高想象后果。”

英诺达副总司理熊文示意：“在IC想象早期诓骗静态考证用具不错匡助IC工程师进行高效的想象考证及重要性的优化，英诺达已发布了两款低功耗领域的静态考证用具，在超大界限电路想象上不错快速完成低功耗想象的查验及功耗的分析与考证。除低功耗想象领域除外，静态考证可诓骗的领域还有好多，昂屹®DFT Checker等于咱们的又一顺心鼎新址品。英诺达将把抓这一上风，握住开拓，接续为国产EDA静态考证用具补皆短板，为IC工程师的想象后果和芯片良率添砖加瓦。”